【お知らせ】ラジオNIKKEI「経営トップに聞く！強みと人材戦略」に弊社代表取締役の川上が出演

【プレスリリース】リガク、3Dフラッシュメモリの欠陥検査・計測における新手法の発表でThe Diana Nyyssonen Memorial Best Paper Awardを受賞～超高分解能X線顕微鏡を用い、非破壊でナノスケールの構造を可視化～

【お知らせ】サステナビリティソリューションズ 省電力を実現する次世代パワー半導体製造プロセスの金属汚染評価