【プレスリリース】リガク、次世代半導体向け計測装置「XTRAIA MF-3400」販売開始～急拡大するAI・データセンター需要に応える高精度ウェーハ計測～

【お知らせ】携帯型ラマン分析装置「Icon-X」日本国内販売開始

【プレスリリース】リガク、最先端半導体プロセス対応の全反射蛍光X線分析装置「XHEMIS TX-3000」を販売開始～圧倒的市場優位性を有するTXRF技術が、最大6倍の高速化で進化～

【プレスリリース】リガク、半導体向け「XTRAIA XD-3300」の本格商業生産開始 ～微細パッド・超格子を非破壊かつ超高速で計測、次世代メモリ・ロジック市場を牽引～

【プレスリリース】リガク、次世代材料開発に適した熱分析装置「STAvesta」を発表

【プレスリリース】リガク、化学脅威分析向け携帯型ラマン分析装置を発表　危険物質の遠隔分析を可能にする「Icon-X」、安全保障・災害対応分野を支援

【プレスリリース】リガク、円山応挙の襖絵の研究にX線分析で協力

【お知らせ】リガク、自動・自律的な物質合成を実現する「デジタルラボラトリー」に協力

【お知らせ】リガクのXSPA-200 ERがPittcon Today Excellence Awardでブロンズ賞を受賞